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荧光光谱测试仪
产品名称:

荧光光谱测试仪

产品型号:
产品时间: 2019-08-10
浏览次数: 361
荧光光谱测试仪又称分光仪,广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

产品介绍

荧光光谱测试仪又称分光仪,广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

标准配置:

1. 美国原装进口电致冷Si-PINtanceqi

2. X射线光管模块

3. 高低压电源模块

4. 多道分析模块

5. 信噪比增强模块

6. 集成IPAD触摸屏

7. RoHS卤素专用软件系统

构成

一台典型的光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分:

1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。

2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上,如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。

3. 色散元件: 通常采用光栅,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。

5. 探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。

荧光光谱测试仪技术参数:

测试范围

RoHS, 卤素(硫S-铀U之间的元素)

可测试样品的种类

固体,液体,粉末

检出限

≤2ppm;精度:±0.05%

测试时间

30-300s(可以任意调节)

摄像定位系统

800万真像素高清定位系统

X射线光管使用寿命

>20000小时

探测器

美国Amptek公司原装进口电致冷Si-PIN探测器;

分辨率 145ev±5ev

高压电源

0-50kev,0-2mA  50w

准直滤光系统

X射线光斑大小直径:φ1mm,φ3mm,φ5mm; 9种复合滤光系统

工作环境温/湿度

温度15-30℃   湿度 ≤75%(不结露)

输入电源

AC220V±15%   50Hz

额定功率

150W   重量 33kg

仪器尺寸

670*400*330mm

测试样品腔尺寸

200*260*80mm

专业RoHS指令有害元素和卤素快速,无损检测;一体机设计,内置工业计算机和IPAD触摸屏,无需另配电脑和显示器。
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